產品中心
Product Center
當前位置：首頁
產品中心小麥面粉大米檢測化驗儀器
小麥不完善粒測定儀以小麥不完善粒作為測定對象,在自動獲取糧食圖像后，通過模式識別或深度學習等技術構建神經網絡模型，實時分析糧食特征并計算出小麥不完善粒百分比。
更新時間：2025-07-07
型號：KM-XML
瀏覽量：594
小麥表型檢測儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、總粒數、千粒重和莖稈莖節長度等指標的測量，可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。
更新時間：2025-07-07型號：KM-XMBX瀏覽量：483
水稻表型檢測系統可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數、理論產量、穗長、總粒數和千粒重以及水稻莖稈分析等指標的測量，可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。
更新時間：2025-07-07型號：KM-SDY瀏覽量：551
單頭面筋測定儀適用于小麥粉、顆粒粉或全麥粉的測定，廣泛應用于食品和面粉加工、糧油質檢、糧食貯藏、大專院校和科研機構等部門。
更新時間：2025-07-07型號：MJ-IID瀏覽量：851