點(diǎn)擊放大

PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀Elektrophysik授權(quán)

訂購留言

分享到：

PhysiTest測(cè)厚儀Elektrophysik授權(quán)

EPK測(cè)厚儀：

篤摯儀器（上海）有限公司為多種精密檢測(cè)儀器設(shè)備提供專業(yè)的技術(shù)服務(wù)及售后服務(wù)，以技術(shù)能力專業(yè)、產(chǎn)品資源全面、服務(wù)周到快捷、設(shè)備質(zhì)量可靠為宗旨，在機(jī)械加工、精良制造、新材料應(yīng)用、科學(xué)研究等前沿領(lǐng)域具有*優(yōu)勢(shì)。咨詢：。進(jìn)一步了解產(chǎn)品詳細(xì)參數(shù)信息。

PhysiTest測(cè)厚儀Elektrophysik授權(quán)
濕膜輪測(cè)厚儀Wet Film Thickness
 
PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀可以用于測(cè)量平坦或彎曲表面的濕膜厚度。
 
PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀由兩個(gè)外同心輪和一個(gè)內(nèi)偏心輪組成。
 
當(dāng)濕膜輪在涂層表面滾動(dòng)時(shí)，內(nèi)輪接觸并粘起濕膜時(shí)所對(duì)應(yīng)的刻度即為濕膜厚度。
 
PhysiTest為不同要求提供三種基本規(guī)格產(chǎn)品。
產(chǎn)品信息
 
     型號(hào)               名稱                      量程
PhysiTest15201          濕膜輪                   0-100μm 
 
PhysiTest15202          濕膜輪                   0-200μm 
 
PhysiTest15203         濕膜輪                   200-700μm
 
尺寸：直徑50mm×寬27mm
 
重量：0.35Kg
德國EPKMikroTest校準(zhǔn)板G、F、S3、S5兩件套   德國EPKMikroTest校準(zhǔn)板NiFe50/NI50兩件套   德國EPKMikroTest校準(zhǔn)板NiFe50/NI50四件套   德國EPKMikroTest校準(zhǔn)板G、F、S3、S5四件套   測(cè)頭FH 10  EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7200   FH4探頭   測(cè)頭FH 4.1   EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7400   EPK涂層測(cè)厚儀探頭Printer MiniPrint7000  A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC    超聲波測(cè)厚儀TT130   超聲波測(cè)厚儀TT120   高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7DL   高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7   A/B掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX   超聲波測(cè)厚儀TT100   高精密超聲波測(cè)厚儀CL400探頭   帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX   高精密超聲波測(cè)厚儀CL5 

濕膜厚度在實(shí)際中具有參考性和指導(dǎo)意義。濕膜厚度與干膜厚度的關(guān)系如下：
濕膜厚度=所需的干膜厚度/涂料固體成分的體積百分比
濕膜厚度=（所需的干膜厚度/涂料固體成分的體積百分比）*（100%+添加的稀釋劑百分比）
注：涂料的固體成分百分比可根據(jù)所用涂料的參數(shù)確定。

濕膜厚度的測(cè)量：
一般濕膜厚度的測(cè)量使用濕膜輪規(guī)、濕膜齒規(guī)（梳齒儀）。

德國EPK濕膜輪測(cè)厚儀PhysiTest15201量程0-100μm
濕膜輪測(cè)厚儀用于對(duì)新涂的濕涂層進(jìn)行快速簡易的厚度測(cè)量。測(cè)量范圍：0～100μm。
 
描述
濕膜測(cè)厚儀，測(cè)量0～100μm新涂的濕涂層。
 
應(yīng)用
用于對(duì)新涂的濕涂層進(jìn)行快速簡易的厚度測(cè)量。
 

PhysiTest測(cè)厚儀Elektrophysik經(jīng)銷商。PhysiTest測(cè)厚儀Elektrophysik代理現(xiàn)貨
特點(diǎn)
耐磨
無需電力
無需校準(zhǔn)

 涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)注意事項(xiàng)，應(yīng)注意下列要點(diǎn)：
1.正確的校準(zhǔn)對(duì)產(chǎn)品測(cè)量是至關(guān)重要的。對(duì)于校準(zhǔn)，將采用一個(gè)與后來被測(cè)量的物體相類似的樣品，即同時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)試樣和衡量的對(duì)象應(yīng)具有相同的形狀和幾何?；旧希鄿y(cè)量對(duì)象的標(biāo)準(zhǔn)試樣匹配，測(cè)量結(jié)果將更加準(zhǔn)確。
2.確定校準(zhǔn)樣品和被測(cè)量物體的以下屬性匹配： -- 表面的曲率半徑 -- 襯底材料(如磁導(dǎo)率，電導(dǎo)；以理想的方式，標(biāo)準(zhǔn)試樣和測(cè)量對(duì)象應(yīng)是同樣的材料) -- 基材厚度 -- 測(cè)量區(qū)域的尺寸3.在開始校準(zhǔn)之前，確保校準(zhǔn)點(diǎn)，傳感器提示和校準(zhǔn)的樣板是干凈的。如果有必要，去除任何如油脂，金屬屑等堆積物。任何雜質(zhì)可能影響校準(zhǔn)和導(dǎo)致校準(zhǔn)的不穩(wěn)定。
4.確?？偸钦业礁髯缘耐恍?zhǔn)位置，特別是小零件的測(cè)量和在棱角的測(cè)量。小零件建議使用測(cè)量支架。
5.在校準(zhǔn)過程中遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)。
6.更多可以與預(yù)期厚度匹配的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)厚度，將校準(zhǔn)和測(cè)量更加準(zhǔn)確。
7.根據(jù)電磁感應(yīng)方法，測(cè)量鋼或鐵襯底上的有色金屬涂料的厚度，需要多點(diǎn)校正。厚度標(biāo)準(zhǔn)樣本必須由作為以后要測(cè)量的物體相同的金屬制成。
8.如果使用校準(zhǔn)箔，確保它們被放置在基板材料的平面位置上。箔下面的空氣間隙必須避免，因?yàn)檫@將導(dǎo)致不穩(wěn)定的讀數(shù)。如果是曲線的鋁箔，確保它們放置在基體上，如下所示。
9.精密厚度標(biāo)準(zhǔn)必須小心處理。 厚度標(biāo)準(zhǔn)的任何磨損和破損將以錯(cuò)誤的校準(zhǔn)值反映出來。不許折疊校準(zhǔn)箔。任何屈曲將導(dǎo)致貼膜下面產(chǎn)生氣隙，導(dǎo)致不穩(wěn)定的讀數(shù)。保持厚度標(biāo)準(zhǔn)的清潔。任何油脂、油、灰塵或其他堆積物必須避免。鋁箔的堆積物將被視為厚度，并將導(dǎo)致與堆積物厚度相同值的測(cè)量誤差。給你一個(gè)大概的概念：一個(gè)指紋的堆積物就足以造成數(shù)微米的附加厚度誤差。