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德國(guó)菲希爾cms2/cms2 step臺(tái)式庫(kù)侖測(cè)厚儀 德國(guó)菲希爾臺(tái)式儀器，使用庫(kù)倫法測(cè)量幾乎所有金屬鍍層厚度，無論基材是金屬或非金屬，無論鍍層結(jié)構(gòu)是單鍍層還是多鍍層。電解測(cè)厚儀又叫做庫(kù)侖法測(cè)厚儀，應(yīng)用于電鍍層的測(cè)厚。電解測(cè)厚儀可以解決裝飾鉻層測(cè)厚、鎳層測(cè)厚、銅層測(cè)厚、鋅層測(cè)厚、錫層測(cè)厚、銀層測(cè)厚、金層測(cè)厚、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測(cè)厚問題。

COULOSCOPE CMS （庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng)） COULOSCOPE CMS庫(kù)侖電解測(cè)厚儀使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。直觀的菜單指引系統(tǒng)，新的可以通過泵控制自動(dòng)注液和清空測(cè)量槽的V18測(cè)量臺(tái)，以及SPC統(tǒng)計(jì)能力

Fischer庫(kù)侖法金屬多鍍層測(cè)厚儀 COULOSCOPE® CMS2 STEP庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

Couloscope CMS2庫(kù)侖測(cè)厚儀 這個(gè)系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫(kù)侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要?jiǎng)冸x的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系

Couloscope CMS2 STEP庫(kù)侖法多鍍層測(cè)厚儀 COULOSCOPE® CMS2 STEP庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

Couloscope CMS2 STEP庫(kù)侖測(cè)厚儀 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 cms2 簡(jiǎn)單快速地測(cè)量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層 提供了的測(cè)量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對(duì)于測(cè)量都是無關(guān)緊要的